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測試治具-鉞海電子-測試治具廠家 ：

　　測試治具　　ICT測試治具即InCircuitest測試治具的縮寫，就是在線檢測、測試治具。是對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試設備。它主要用于檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡的開、短路情況，測試治具，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點，測試治具訂制，ICT測試治具可進行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，對每種單板需制作專用的針床，這個針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它ICT測試治具。

測試治具的區(qū)別，CP和FT的不同點并不只是限于所在的工序期間不同，兩者在效率和功用籠蓋上都有著明顯的區(qū)別，這些信息是每一個IC從業(yè)職工需求根本了解的。

那這樣一來，咱們還需不需求CP測試?或許在CP測試期間怎么對具體測試項目進行取舍呢?要回答這個題目，咱們就必需對CP的意圖有深入的了解.那CP的意圖究竟是啥呢?

當然，理論上在CP期間也能夠進行高速信號和高精度信號的測試，但這一般需求采用專業(yè)的高速探針計劃，如筆直針/MEMS探針等技能，這會大大增加硬件的本錢.多數(shù)情況下，這在經(jīng)濟視點上來說是分歧算的。

按照國際慣例，首要需求再解釋一下啥是CP和FT測試.CP是(Chip Probe)的縮寫，指的是芯片在wafer的期間，就經(jīng)過探針卡扎到芯片管腳上對芯片進行機能及功用測試，有時候這道工序也被稱作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的縮寫，指的是芯片在封裝完結今后進行的測試，只要經(jīng)過測試的芯片才會被出貨。

一種檢測用治具，測試治具廠家，用于固定待測電池的電路板端子的擺放位置，其包括:一底座，所述底座的上表面設置一邊開口的凹槽，測試治具定做，所述凹槽的邊框形狀與待測電池的電芯外框形狀相同，凹槽包括左右對稱設置的側(cè)邊部、側(cè)邊部以及擋板部，所述擋板部開設有方形槽，所述方形槽的邊框形狀與待測電池的電路板端子外框形狀相同，方形槽中底部設置有磁鐵。